Sharp single crystal diamond AFM probes
ホウ素ドーブする事で導電性にしたダイヤモンドTipです。
シリコンTipには真似できない剛性にてライフタイムやTip性能持続を可能にします。
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- 高分解能：「Super-Sharp」の先端径5 nm 未満
- ライフタイム：通常シリコン品の10倍以上
- 導電性：コンタクト/ノンコンタクトモードどちらも対応可
APEX SHARP
独自特許技術をもつ高導電性のApex Sharpダイヤモンドプローブは、最高のNanoメカニカル・電気的性能を提供します。
24時間以上連続使用での定量的で再現性のある測定が実証されています。
高度な耐摩耗性ダイヤモンドTipの使用は、チップ to サンプルの接触サイズが十分に特徴付けられており一定間隔を保った機械的および電気的測定はより信頼できるデータをもたらします。
| Amada Tip Specs | Tip Shape | Radius (nm) |
Height (nm) |
Tilt Angle (deg) |
Material | Full Tip Angle (deg) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Cone | 10 ± 5 | 300 ± 100 | 0 ± 1 | Single Crystal Diamond |
30 ± 4 | |
| Cantilever Specs |
Model Name |
Length (um) |
Width (um) |
Thickness (um) |
Frequency (KHz) |
Spring Constant (N/m) |
| AD-2.8-AS | 225 ± 5 | 50 ± 5 | 1.5 ± 0.5 | 75 ± 25 | 2.8 ± 1.8 | |
| AD-40-AS | 225 ± 5 | 40 ± 5 | 3.0 ± 0.5 | 200 ± 100 | 50 ± 30 | |
| AD-42-AS | 150 ± 5 | 30 ± 5 | 3.5 ± 0.5 | 300 ± 150 | 42 ± 20 | |
| AD-450-AS | 125 ± 5 | 40 ± 5 | 4.0 ± 0.5 | 750 ± 250 | 450 ± 250 | |
| AD-1.2K-AS | 100 ± 5 | 40 ± 5 | 7.0 ± 0.5 | 1100 ± 350 | 1000 ± 350 |
 |
 |
|---|---|
 |
☆ Highly doped with boron with a macroscopic resistivity of 0.003 – 0.005 Ω∙cm.
☆ Typical contact resistance of 10 kΩ depending on contact radius
(measured on a silver surface).
☆ Gold reflex coating on the detector side of the cantilever to enhance reflectivity.
SUPER SHARP
Super Sharpダイヤモンドプローブは、市場で最も優れた電気的分解能を提供し、原子レベルでの形状把握及び電気イメージングが可能です。
高度な耐摩耗性ダイヤモンドプローブの使用は、チップ – サンプル接触サイズは十分に特徴付けられており一定間隔を保った機械的および電気的測定はより信頼できるデータをもたらします。
| Amada Tip Specs |
Tip Shape | Radius (nm) |
Height (nm) |
Tilt Angle (deg) |
Material | Full Tip Angle (deg) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Cone | < 5 | 300 ± 100 | 0 ± 1 | Single Crystal Diamond |
30 ± 4 | |
| Cantilever Specs |
Model Name |
Length (um) |
Width (um) |
Thickness (um) |
Frequency (KHz) |
Spring Constant (N/m) |
| AD-2.8-SS | 225 ± 5 | 50 ± 5 | 1.5 ± 0.5 | 75 ± 25 | 2.8 ± 1.8 | |
| AD-40-SS | 225 ± 5 | 40 ± 5 | 3.0 ± 0.5 | 200 ± 100 | 50 ± 30 | |
| AD-42-SS | 150 ± 5 | 30 ± 5 | 3.5 ± 0.5 | 300 ± 150 | 42 ± 20 |
 |
 |
|---|---|
 |
☆ Highly doped with boron with a macroscopic resistivity of 0.003 – 0.005 Ω∙cm.
☆ Typical contact resistance of 10 kΩ depending on contact radius
(measured on a silver surface).
☆ Gold reflex coating on the detector side of the cantilever to enhance reflectivity.
ASPECT RATIO 【NEW】
アスペクト比ダイヤモンドプローブは、市場で最も優れた電気的分解能を提供し、原子レベルでの形状把握及び電気イメージングが可能です。
耐摩耗性の高いダイヤモンドプローブを使用することにより、先端径の摩耗による画像イメージ低下を防ぎ機械的および電気的測定中に一定に保たれるため、より信頼性の高いデータが得られます。
| Amada Tip Specs |
Tip Shape | Radius (nm) |
Height (nm) |
Diam@100nm (nm) |
Tilt Angle (deg) |
Material |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Cone | 10 ± 5 | 300 ± 100 | 36 – 50 | 13 ± 3 | Single Crystal Diamond |
|
| Cantilever Specs |
Model Name |
Length (um) |
Width (um) |
Thickness (um) |
Frequency (KHz) |
Spring Constant (N/m) |
| AD-2.8-AR1 | 225 ± 5 | 50 ± 5 | 1.5 ± 0.5 | 75 ± 25 | 2.8 ± 1.8 | |
| AD-40-AR1 | 225 ± 5 | 40 ± 5 | 3.0 ± 0.5 | 200 ± 100 | 50 ± 30 | |
| AD-42-AR1 | 150 ± 5 | 30 ± 5 | 3.5 ± 0.5 | 300 ± 150 | 42 ± 20 | |
| AD-450-AR1 | 125 ± 5 | 40 ± 5 | 6.0 ± 0.5 | 750 ± 250 | 450 ± 250 |
 |
 |
|---|---|
 |
☆ Highly doped with boron with a macroscopic resistivity of 0.003 – 0.005 Ω∙cm
☆ Typical contact resistance of 10 kΩ depending on contact radius
(measured on a silver surface).
☆ Gold reflex coating on the detector side of the cantilever to enhance reflectivity.
PILLAR (HAR)
新製品の高アスペクト比（HAR）ピラープローブは、特徴的なアスペクト比をもった堅牢なサンプル向けに理想的なソリューションを提供します。
他のAmada社プローブと同様ピラープローブは単結晶ホウ素ドープダイヤモンドで形成されており、剛性が高く導電性があり、最大1000回ものスキャンが可能です。
| Amada Tip Specs |
Tip Shape |
P40 Dia. (nm) |
P20 Dia. (nm) |
P10 Dia. (nm) |
P5 Dia. (nm) |
Height (deg) |
Tilt Angle (deg) |
|
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Piller | 20 – 40 | 10 -20 | 5 -10 | < 5 | 100 ± 20 | 13 ± 3 | ||
| Cantilever Specs |
Model Name |
Length (um) |
Width (um) |
Thickness (um) |
Frequency (KHz) |
Spring Constant (N/m) |
||
| AD-2.8-P | 225 ± 5 | 50 ± 5 | 1.5 ± 0.5 | 75 ± 25 | 2.8 ± 1.8 | |||
| AD-40-P | 225 ± 5 | 40 ± 5 | 3.0 ± 0.5 | 200 ± 100 | 50 ± 30 | |||
| AD-42-P | 150 ± 5 | 30 ± 5 | 3.0 ± 0.5 | 300 ± 150 | 42 ± 20 | |||
 |
 |
|---|---|
 |
CONE
このコーン型プローブは、より高い分解能にてダイヤモンドの剛性による長寿命とNanoメカニカルな利点を提供します。
ボロンドープダイヤモンドは、接触半径に応じて約100kΩの接触抵抗(銀表面で測定)で導電性です。
| Amada Tip Specs |
Tip Shape | Radius (nm) |
Height (nm) |
Tilt Angle (deg) |
Material | Full Tip Angle (deg) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Cone | 20 ± 10 | 175 ± 50 | 0 ± 1 | Single Crystal Diamond |
90 ± 20 | |
| Cantilever Specs |
Model Name |
Length (um) |
Width (um) |
Thickness (um) |
Frequency (KHz) |
Spring Constant (N/m) |
| FM-LC | 225 ± 10 | 40 ± 5 | 3.0 ± 0.5 | 100 ± 50 | 10 ± 6 | |
| NC-LC | 125 ± 10 | 40 ± 5 | 4.0 ± 0.5 | 450 ± 150 | 125 ± 75 |
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|---|---|
 |
NANOMECHANICS
このチップは、特に高い機械的負荷およびスクラッチ試験アプリケーション向けに設計されています。
高耐摩耗性ダイヤモンドと広円錐角の使用にて、繰返しの機械的測定での接触サイズは一定間隔に保たれます。
これらのプローブはナノインデンテーション用に設計されており、材料の弾性率と硬さの両方を測定するためにOliver-Pharr分析との併用を可能にする高レベルの塑性変形を誘発します。
| Amada Tip Specs |
Tip Shape | TC Radius (nm) |
RC Radius (nm) |
Height (nm) |
Tilt Angle (deg) |
TC Full Tip Angle(deg) |
RC Full Tip Angle(deg) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Cone | 25 ± 10 | 10 ± 5 | 500 ± 100 | 0 ± 1 | 95 ± 20 | 90 ± 10 | |
| Cantilever Specs |
Model Name |
Length (um) |
Width (um) |
Thickness (um) |
Frequency (KHz) |
Spring Constant (N/m) |
|
| NM-RC | 125 ± 10 | 40 ± 5 | 4.0 ± 0.5 | 600 ± 250 | 350 ± 250 | ||
| NM-TC | 125 ± 10 | 40 ± 5 | 4.0 ± 0.5 | 600 ± 250 | 350 ± 250 | ||
 |
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|---|---|
 |
NANOMECHANICS
先端形状を正確に確認する必要があるお客様は、オプションSEM測定サービスを利用することができます。
チップ先端から5/50/100 nmでの先端半径測定と共に高解像度SEM画像付オプションです。
これらのオプションサービスは、-LCおよび-TC製品を除くすべてのAdamaプローブに対してご利用いただけます。
ご注文の際は型番に-SEMを付けてください。
『BudgetSensors』はISB社(ブルガリア)が提供するブランドで҆安価高品質なSPMプローブです。
近年MicroMasch（μmasch）ブランドを買収しました。
殆どの市販AFMシステムVEECO, DI Nanoscope, Agilent, Park, NanoSurf, JPK, JEOL, その他)に適合するAFMプローブ及びAFM 校正サンプル（グレーティング）等を供給します。
AppNano社 (Applied NanoStructures, Inc.)はAFM(原子間力顕微鏡)/SPM(走査型プローブ顕微鏡)メーカー各社のシステム適合する高品質のプローブ/カンチレバーを供給します。様々なアプリケーション向けに多種の標準品をラインナップしています。
シリコン、酸化ケイ素、窒化ケイ素のメンブレン薄膜もございますのでご参照ください。
Reference Guide
Option 定義:
A – Aluminium reflex coating, SS – Super sharp tip, TL – Tipless, G – Gold reflex coating, GG – Tip and reflex side gold coating.
【Tapping / Non-Contact Mode】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
ACCESS™ Probes | Silicon Tapping Mode Tip View Probe | – | – | – | – |
 |
ACL Series | Long Cantilever Tapping Mode Probe | 225 | 45 | 190 | A, G, GG, SS, TL |
 |
ACST Series | Silicon Soft Tapping Mode Probe | 150 | 7 | 150 | A, G, GG, SS,TL |
 |
ACT Series | Silicon Tapping Mode Probe | 125 | 40 | 300 | A, G, GG, SS, TL |
 |
FORT Series | Force Modulation Mode Probe | 225 | 3 | 62 | A, G, GG, SS, TL |
 |
HYDRA-All Series | Silicon Nitride Probe, V- Shape, Four Cantilever | 100, 200 | 0.292, 0.045, 0.405, 0.081 |
66, 17, 67,17 | G |
 |
HYDRA6R-100N Series | Silicon Nitride Probe, Rectangular Cantilever | 100 | 0.284 | 66 | G, GG, TL |
 |
HYDRA6V-100N Series | Silicon Nitride Probe, V- Shape, Narrow Cantilever | 100 | 0.292 | 66 | G, GG, TL |
 |
HYDRA6V-100W Series | Silicon Nitride Probe, V- Shape, Wide Cantilever | 100 | 0.405 | 67 | G, GG, TL |
 |
Nitra-All Series | Silicon Nitride Probe, V- Shape, Four Cantilever | 100, 200 | 0.243, 0.041, 0.324, 0.071 |
48, 14, 51,16 | – |
 |
UHF Fast-Scan Series | Silicon Non-Contact Mode probe | 55 | 99 | 1100 | None |
【Contact Mode】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
HYDRA4V-100N Series | Silicon Nitride, V- Shape, Narrow Cantilever | 100 | 0.088 | 42 | – |
 |
HYDRA6R-200N Series | Silicon Nitride, Rectangular Cantilever | 200 | 0.035 | 17 | G, GG, TL |
 |
HYDRA6V-200N Series | Silicon Nitride, V- Shape, Narrow Cantilever | 200 | 0.045 | 17 | G, GG, TL |
 |
HYDRA6V-200W Series | Silicon Nitride, V- Shape, Wide Cantilever | 200 | 0.081 | 17 | G, GG, TL |
 |
SHOCON Series | Short Cantilever Contact Mode probe | 225 | 0.16 | 23 | A, G, GG, SS, TL |
 |
SICON Series | Silicon Contact Mode probe | 450 | 0.29 | 17 | A, G, GG, SS, TL |
【Biological Applications】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
HYDRA-All Series | Silicon Nitride Probe, V- Shape, Four Cantilever | 100, 200 | 0.292, 0.045, 0.405, 0.081 |
66, 17, 67,17 | G |
 |
HYDRA2R-100N Series | Nitride Probe, Rectangular Cantilever | 100 | 0.011 | 21 | G, GG, TL |
 |
HYDRA2R-50N Series | Nitride Probe, Rectangular Cantilever | 50 | 0.084 | 77 | G, GG, TL |
 |
Nitra-All Series | Silicon Nitride Probe, V- Shape, Four Cantilever | 100, 200 | 0.243, 0.041, 0.324, 0.071 |
48, 14, 51,16 | – |
【Force Modulation】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
FCL Series | 5 Tipless Cantilevers per chip for spring constant calibration | 52-442 | 0.12-77 | 14-1000 | A |
 |
FORT Series | Force Modulation Mode Probe | 225 | 1.6 | 61 | A, G, GG, SS, TL |
【Magnetic Force Imaging】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
MAGT Series | Silicon probes for Magnetic Force Microscopy applications. | 225 | 3 | 62 | – |
【Trench Depth Measurement】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
HART Series | High Aspect Ratio Silicon Probes | 125 | 37 | 300 | – |
【Membranes】
| Picture Samples | SPM Probe Model | Description | Cantilever Length (μm) |
Spring Constant (N/m) |
Resonance Frequency (kHz) |
Options |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
Silicon Membranes | Thin Membranes of Silicon | – | – | – | – |
 |
Silicon Nitride Membranes | Thin Membranes of Silicon Nitride | – | – | – | – |
 |
Silicon Oxide Membranes | Thin Membranes of Silicon Oxide | – | – | – | – |
 |
PORE-NI | Thin Membranes of Silicon Nitride with nanopores | – | – | – | – |
 |
PORE-OX | Thin Membranes of Silicon Oxide with nanopores | – | – | – | – |
 |
PORE-SI | Thin Membranes of Silicon with nanopores | – | – | – | – |
