超小型データロガー、高温・低温データロガー、電子顕微鏡(SPM)・カンチレバー、金銀アルミコートスライドガラス

EM RESOLUTIONS社は電子顕微鏡(SEM及びTEM等)向けサポートフィルム・校正標準用試料を提供します。
電子顕微鏡業界における非常に多くの経験と知識を持ち合わせ、多くの大学・研究室と協力しています。

TEM PRODUCTS		SEM PRODUCTS
TEM Support Films coated grids – Holey and Lacey Carbon TEMグリッド 支持膜付 (特にCryo-TEMに有効)		SEM Calibration SEM用分解能測定試料 ＜カーボン上 金蒸着＞ ＜カーボン上 錫球＞ ＜シリコン校正標準＞
TEM support films coated grids – Formvar, Formvar Carbon and Carbon TEMグリッド フォルムバール支持膜付 (特に超薄凍結切片に有効)		SEM multi and combination standards SEM用解像度・倍率基準試料 (SEM解像度、非点収差、像シフト測定用校正標準)
TEM Support Films Graphene oxide super thin TEM support films / coated grids TEM用グラフェン酸化膜付グリッド (厚さ：<1nm　グラフェン酸化膜)		倍率校正 ＜Magnification calibration (MCS)＞
QUANTIFOIL® support films Quantifoil® TEM用カーボン支持膜 (特にCryo-TEMに有効)		Consumables for SEM SEM用試料台 ＜ピンスタブ＞ ＜試料貼付用ピンスタブ＞ ＜その他＞
TEM Calibration TEM用分解能測定試料 ＜TOGC oriented gold crystal＞ ＜多孔カーボンフィルム＞ ＜多孔アルミニウムフィルム＞		SEM Finder Grids SEM用ファインダーグリッド (繊維や花粉粒子等、小さな標本分析・位置測定用途)
カーボン支持膜 テクニカル情報(PDF)		カーボン上 金蒸着 テクニカル情報(PDF)